Reed Relais als zentrale Komponente in integrierten Schaltkreisen

einführung

Entwickler von Chips entwerfen immer kleinere and schnellere integrierte Schaltkreise mit Schaltausgängen/Chip Millionenhöhe。这是最好的办法，因为它是zuverlässige Funktion dieser Ausgänge getestet wid。Hochwertige Testgeräte wurden dafür entwickelt, die Chips ohne Unterbrechung 24 Stunden/Tag zu testen, and da es dabei eine so big ße Anzahl von Ausgängen zu testen gilt, ist Geschwindigkeit von重大的ßer Bedeutung。这一切都是孤立的，还有施特耳的脉动，müssen施特耳在施特耳的脉动。Durch diese Piko-Sekunden schnellen Impulse werden Millionen von Informationen pro Sekunde übertragen。Daher müssen die für den Tester verwendeten Schalter sorgfältig ausgewählt werden, damit sie diese schnellen Impulse auh wirklich ohne Verzerrungen schalten and tragen können，并且死über Schaltvorgänge在Millionenhöhe。Entwickler dieser Testgeräte halten bob全站appStandex Electronics Reed Relais im Ultra-Mini-Design für besonders geeignet。

Applikationsbeschreibung